通知公告 - 正文
关于“碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法”等2项团体标准委员会草案投票的通知 2021-09-29 09:44
关于“碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法”等2项团体标准委员会草案投票的通知
 
各有关单位:
      团体标准T/CASA 013—2021《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》、T/CASA 014—2021《碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法》已完成委员会草案的编制,根据标委会管理及标准制修订细则相关规定,现面向联盟标委会发起委员会草案投票,诚邀您对该项标准投票或提出宝贵意见、建议,并于2021年10月29号之前将《投票单》回复casas@casa-china.cn,亦可扫描二维码进行投票。逾期未复函的按无异议处理。相关资料请见附件!
      顺祝您工作顺利!
      诚谢您的支持!


附件1:关于“碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法”等2项团体标准委员会草案投票的通知
附件2:T/CASA 013—2021《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》(委员会草案)
附件3:T/CASA 014—2021《化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法》(委员会草案)
附件4:投票单
 
二维码投票单及投票链接

http://casa-china.mikecrm.com/JhioFr5
 
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
2021年9月28日

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