目前高速数字与射频技术的应用日益广泛，尤其是在第三代半导体、算力网络、低空经济等新兴领域，测试技术面临着前所未有的挑战。本次研讨会围绕这些热点话题，深入探讨了最新的测试解决方案和技术进展，为行业提供了宝贵的实践经验和创新思路。
会议邀请了多位行业知名专家和学者，分享了他们在高速数字与射频测试领域的最新研究成果。来自山东大学、是德科技等单位的资深专家，分别就高速数字接口测试、碳化硅器件研究、第三代半导体功率器件测试、低空经济与无人设备测试、微波与毫米波器件测试等议题进行了精彩演讲。
除了专题演讲，本次研讨会还设置了茶歇交流环节，参会者与行业专家进行了面对面的深入交流，探讨了技术难题和未来合作机会。会议还设有互动抽奖环节，奖品包括小米智能摄像头、幻响小金条快充充电宝、倍思三合一数据线等精美礼品，现场气氛热烈。