标准发布
联盟标准列表
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序号 联盟标准号 标准名称 文件 状态
 1   T/CASAS 001-2018  碳化硅肖特基势垒二极管通用技术规范 点击查看 已发布
2  T/CASAS 002-2021  宽禁带半导体术语 点击查看 已发布
3  T/CASAS 003-2018  p-IGBT器件用4H-SiC外延晶片 点击查看 已发布
4  T/CASAS 004.1-2018  4H-SiC衬底及外延层缺陷 术语 点击查看 已发布
5  T/CASAS 004.2-2018  4H-SiC衬底及外延层缺陷 图谱 点击查看 已发布
6  T/CASAS 005-20XX  用于硬开关电路的GaN HEMT动态导通电阻测试方法 / 委员会草案
7  T/CASAS 006-2020  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 点击查看 已发布
8  T/CASAS 007-2020  电动汽车用碳化硅(SiC)场效应晶体管(MOSFET)模块评测规范 点击查看 已发布
9  T/CASAS 008-2019  地铁再生制动能量回收系统技术规范 点击查看 已发布
10  T/CASAS 009-2019  半绝缘SiC材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 点击查看 已发布
11  T/CASAS 010-2019  GaN材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 点击查看 已发布
12  T/CASAS 011.1-2021  车规级半导体功率器件测试认证规范 点击查看 已发布
13  T/CASAS 011.2-2021  车规级半导体功率模块测试认证规范 点击查看 已发布
14  T/CASAS 011.3-2021  车规级半导体功率模块测试认证规范 点击查看 已发布
15  T/CASAS 012-20XX  电动汽车用碳化硅(SiC)电机控制器评测规范 / 委员会草案
16  T/CASAS 013-2021  碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法 点击查看 已发布
17  T/CASAS 014-2021  碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法 点击查看 已发布
18  T/CASAS 015-2022  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)功率循环试验方法 点击查看 已发布
19  T/CASAS 016-2022  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)结壳热阻瞬态双界面测试方法 点击查看 已发布
20  T/CASAS 017-2021  第三代半导体微纳米金属烧结技术 术语 点击查看 已发布
21  T/CASAS 018-2021  微纳米金属烧结件剪切强度测试方法 点击查看 已发布
22  T/CASAS 019-2021  微纳米金属烧结体电阻率试验方法 四探针法 点击查看 已发布
23  T/CASAS 020-2021  微纳米金属烧结体热导率试验方法 闪光法 点击查看 已发布
24  T/CASAS 021-20XX  SiC MOSFET 阈值电压测试方法 / 制定中
25  T/CASAS 022-20XX  三相智能电表及小型线路终端用氮化镓场效应管通用技术规范 / 制定中
26  T/CASAS 023-20XX  宽禁带半导体封装用烧结银膏 / 制定中
27  T/CASAS 024-20XX  碳化硅MOSFET开关运行条件下阈值稳定性测试方法 / 制定中
28  T/CASAS 024-20XX  8英寸碳化硅晶片基准标记及尺寸 / 制定中


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