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关于《碳化硅衬底及外延片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》等2项团
2021-08-06by casa关于《碳化硅衬底及外延片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》等2项团体标准征求意见的通知 各有关单位： 由广州南砂晶圆半导体技术有限公司提出，并主责起草的《碳化硅衬.... -
关于《车规级半导体功率器件测试认证规范》等三项团体标准征求意见的通知
2021-06-23by casa关于《车规级半导体功率器件测试认证规范》等三项团体标准征求意见的通知 各有关单位： 由国家新能源汽车技术创新中心提出，并主责起草的《车规级半导体功率器件测试认证规范.... -
关于《第三代半导体微纳米金属烧结技术 术语》等四项团体标准立项的通知
2021-06-21by casa关于《第三代半导体微纳米金属烧结技术 术语》等四项团体标准立项的通知 各有关单位： 由深圳第三代半导体研究院牵头的 《第三代半导体微纳米金属烧结技术 术语》、《微纳米金.... -
《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）功率循环试验方法》标准
2021-06-18by casa《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）功率循环试验方法》标准草案（线上）讨论会顺利召开 2021年6月10日下午，联盟团体标准T/CASA 015-20XX《碳化硅金属氧化物半导体场效.... -
微纳米金属烧结件热导率测试等多项标准预研工作会议成功召开
2021-06-08by casa微纳米金属烧结件热导率测试等多项标准预研工作会议成功召开 2021年6月3日上午，微纳米金属烧结件测试标准预研工作会议顺利举办，与会人员围绕微纳米银、微纳米铜为代表的新型微.... -
《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》等多项标准工作会成
2021-06-08by casa《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》等多项标准工作会成功召开 2021年6月3日下午，《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》、《碳化硅衬底基平面.... -
SiC MOSFET 热阻电学法测试方法（线上）讨论会顺利召开
2021-06-08by casa《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）热阻电学法测试方法》标准草案（线上）讨论会顺利召开 2021年5月26日下午，联盟团体标准T/CASA 016-20XX《碳化硅金属氧化物半导体场.... -
三项团体标准提案获管理委员会评审通过
2021-04-28by casa各有关单位： 由广州南砂晶圆半导体技术有限公司的《 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨 X 射线衍射法》 以及由工业和信息化部电子第五研究所牵头的 《碳化硅金属氧化物半导体场....
